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技術文章

探討膜厚測試儀在測量時需要注意的事項！

更新時間：2021-05-08

　　探討膜厚測試儀在測量時需要注意的事項！

　　膜厚測試儀分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

　　臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。

　　膜厚測試儀測量時需要注意的事項：

　　1、首先大家在用測量儀進行測試使用時，要選用與試件相似的金屬磁性標準片來進行測量，不要選擇差別或者區(qū)分過大的標準片來試驗測量，不然會導致很大的測量誤差。

　　2、其次用戶需要把測量儀的側頭與試樣表面保持垂直，不要出現任何的傾斜，否則不利于測量工作的順利展開，會讓測量任務半途而廢的，變得毫無意義。

　　3、我們要把膜厚測量儀放置在沒有磁性干擾的場所來進行測試，否則會對儀器的測量性能造成影響，使得測量儀器不能夠發(fā)揮出應有的測量水平來。

　　4、用戶在進行測量儀的測量過程中，需要保持壓力的恒定，不然很容易影響到測量的讀數，會給大家?guī)聿焕挠绊?，讓大家不能記錄到正確化的讀數結果。

　　5、測量儀在使用時要讓儀器測頭和被測試件有直接性接觸，如果兩種之間有雜質存在的話，需要先進行清理方可再展開測量工作。

　　6、大家在使用膜厚測量儀進行測試的時候，不要在內轉角處和靠近試件邊緣處進行測量，這樣會造成測量結果的誤差，會給我們帶來不便性的。讓測量出來的數據是沒有任何參考價值意義的。

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